Otsuka

日本大塚科技股份有限公司不僅提供光電產業、半導體、平面液晶顯示器及材料的顆粒光學量測檢查設備,更希望透過優異的品質樹立業界的標準。 目前,除了各國光電產業技術領先的製造大廠皆已導入大塚的產品以外,更成立了台灣大塚科技,落實日本原廠與辛耘間之溝通體制,以服務廣大的客戶族群。 台灣大塚科技與辛耘集合各領域的專業人才,並規劃組織業務、客服、支援部門以提供顧客更趨完善的服務品質。

奈米粒徑分析儀暨Zeta電位(界面電位)分析儀

奈米粒徑分析儀暨Zeta電位(界面電位)分析儀

特點

通過最新型的高感度APD提高感光度,成功縮短量測時間 
搭載自動溫度梯度測量功能,可分析變性、相變溫度 
新增大範圍分子量測定及解析功能(SLS法) 
可量測0 ~ 90℃ 寬闊的溫度範圍 
使用動態電泳光散射法量測膠體粒子的分散凝集性、交互作用、表面改質等指標性的Zeta電位及粒徑大小與粒徑分佈
除保有低濃度溶液量測功能,更強化了量測濃溶液中的Zeta電位和粒徑大小、粒徑分佈的能力
粒徑範圍0.6nm~10μm,濃度範圍0.00001%~40%
實際量測電滲流(Electroosmotic flow),具備高度可靠性的Zeta電位量測能力
搭配平板樣品容器(選配),可對應平面或薄膜狀樣品量測
支援低介電常數樣品容器(選配)
支援業界最微量的(130μl~)可拋式樣品容器
對應小尺寸樣本平板Zeta電位量測 

量測範圍
濃度範圍 粒徑 : 0.00001%~40 %(乳膠112nm:0.00001~10%、膽汁酸:~40%)
Zeta potential : 0.001%~40% 
Zeta電位 -200 ~ 200 mV
電子遷移率 -20 ~ 20 μm cm / V·sec
粒徑、粒徑分佈 0.6 nm ~ 10 μm
應用範圍

除應用於表面化學、無機材料、半導體、高分子聚合物、生物、藥劑、醫學領域等以微粒子為主的分析外,更適用於薄膜或平面樣品表面物質的實驗與研究。
新機能材料領域領域:
 –燃料電池領域(奈米碳管、Fullerene、機能性薄膜、催化、奈米金屬)
 –生物科技領域(奈米膠囊、網狀高分子聚合物、DDS、生物奈米粒子、奈米微氣泡等)
陶瓷及顏料工業領域:
 –陶瓷(硅土、鋁土、氧化鈦…等)
 –無機溶膠表面改質、分散、凝聚控制
 –顏料(黑碳、有機顏料)分散、凝聚控制
 –漿狀(Slurry)樣品
 –彩色濾光片
 –懸浮礦物質取樣材料吸著力研究
半導體領域:
 –矽晶圓表面所附著之異物解析
 –研磨劑、添加劑與晶圓表面之相互作用研究
 –CMP Slurry
高分子及化學工業領域:
 –塗料或黏著劑乳液、乳劑分散或凝聚狀態,醫藥、工業用乳膠表面改質
 –電解質高分子機能性研究(Polystyrene sulfonate、Poly carboxylic acids…等),機能性奈米微粒
醫藥、食品工業領域:
 –食品乳化劑、香料、醫療、化妝品等乳液、乳劑分散、凝聚狀態,蛋白質機能性
 –微脂體、液胞分散與凝聚控制,界面活性劑(微胞)機能性

規格
  粒徑 (ZS, S) Zeta電位 (ZS, Z) 分子量 (ZS, S)
量測原理 動態光散射法 (光子計數法) 動態電泳光散射法 (Laser Doppler) 靜態光散射法
光學系統 零差法光學系統 外差法光學系統 零差法光學系統
光源 高功率半導體雷射*1
感光元件 高感度APD
樣品容器 矩形容器 : 0.9 mL ~ 微量容器 : 20μl~ 標準容器 : 0.7 mL ~ 高濃度容器 : 0.6 mL ~ 微量可拋式樣品容器 : 130μl~ 矩形容器 : 0.9 mL ~
對應濃度範圍 0.00001 (0.1ppm) ~ 40 % (乳膠112nm:0.00001~10%、 膽汁酸:~40%) 0.001 ~ 40% (乳膠262nm:0.001~10%、 膽汁酸:~40%) -
量測範圍 粒徑 : 0.6nm ~ 10μm Zeta電位 : -200 ~ 200mV 分子量 : 360 ~ 2000 x 104*2
溫度範圍 0~90℃(具備梯度功能)*3
電源規格 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz
尺寸 380(W)× 600(D)× 210(H)mm,約22kg
軟體

平均粒徑解析 (Cumulant法)
粒度分佈解析 (Marquard法/NNLS法/Contin法/Unimodal法)
粒度分布重疊
逆函數&殘差圖表
粒徑監控功能 粒徑範圍顯示 (0.1 ~ 106nm)

Zeta電位解析 (Smoluchowski公式、Hückel公式)
電泳移動度解析
Zeta電位重疊
電滲流解析 (森&岡本公式) pH滴定解析 (等電點解析)
平板界達電位解析

分子量解析 (Debye法)
第二維里係數
慣性半徑補正功能

FDA21CFR Part 11,具備標準操作流程 (SOP) 可選擇日語/英語操作界面

*1 本儀器在雷射相關安全標準規範(JIS C 6802)中被歸類為第一級產品

*2 視樣品有可能需要補正慣性半徑

*3 可拋式容器使用溫度為10~50℃

 

多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA

多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA

低價格、不妥協的高性能
非浸入、非分注,一鍵5檢體連續量測

產品特色

一台5檢體輕鬆連續量測
一鍵測定簡易功能
對應低濃度到高濃度
標準測定時間一分高速測定
非浸入式、非分注式連續量測
搭載溫度梯度(0 ~ 90℃)

量測範圍

粒徑範圍
0.6nm ~ 10um (顯示範圍 : 0.1 ~ 10^6 nm)

濃度範圍
0.00001 ~ 40% (Latex120 nm : 0.00001 ~ 10%、膽汁酸 : ~ 40%)

溫度範圍
0 ~ 90℃

規格樣式
多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA
測定原理 動態光散射法
光源 高輸出半導體雷測
感光元件 高感度APD
連續測定 5檢體
測定範圍 0.6 nm ~ 10 μm
濃度範圍 0.00001 ~ 40%
溫度範圍 0 ~ 90℃ *(具備梯度功能)
ISO 符合 ISO 22412:2017
尺寸 240 (W) × 480 (D) × 375 (H) mm
重量 約 18 kg
軟體功能 平均粒徑解析 (Cummulant)
粒度分布解析 (Marquardt / NNLS / Contin / Unimodal)
粒度分布重疊
逆相關函數 & 殘差圖表
粒徑監控功能
粒徑顯示範圍 (0.1 ~ 10^6 nm)
  ※使用標準玻璃容器時。若使用拋棄式容器為 0 ~ 40℃
量測範例