Otsuka

日本大塚科技股份有限公司不僅提供光電產業、半導體、平面液晶顯示器及材料的顆粒光學量測檢查設備,更希望透過優異的品質樹立業界的標準。 目前,除了各國光電產業技術領先的製造大廠皆已導入大塚的產品以外,更成立了台灣大塚科技,落實日本原廠與辛耘間之溝通體制,以服務廣大的客戶族群。 台灣大塚科技與辛耘集合各領域的專業人才,並規劃組織業務、客服、支援部門以提供顧客更趨完善的服務品質。
奈米粒徑分析儀暨Zeta電位(界面電位)分析儀
特點
通過最新型的高感度APD提高感光度,成功縮短量測時間
搭載自動溫度梯度測量功能,可分析變性、相變溫度
新增大範圍分子量測定及解析功能(SLS法)
可量測0 ~ 90℃ 寬闊的溫度範圍
使用動態電泳光散射法量測膠體粒子的分散凝集性、交互作用、表面改質等指標性的Zeta電位及粒徑大小與粒徑分佈
除保有低濃度溶液量測功能,更強化了量測濃溶液中的Zeta電位和粒徑大小、粒徑分佈的能力
粒徑範圍0.6nm~10μm,濃度範圍0.00001%~40%
實際量測電滲流(Electroosmotic flow),具備高度可靠性的Zeta電位量測能力
搭配平板樣品容器(選配),可對應平面或薄膜狀樣品量測
支援低介電常數樣品容器(選配)
支援業界最微量的(130μl~)可拋式樣品容器
對應小尺寸樣本平板Zeta電位量測
量測範圍
濃度範圍 | 粒徑 : 0.00001%~40 %(乳膠112nm:0.00001~10%、膽汁酸:~40%) |
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Zeta potential : 0.001%~40% | |
Zeta電位 | -200 ~ 200 mV |
電子遷移率 | -20 ~ 20 μm cm / V·sec |
粒徑、粒徑分佈 | 0.6 nm ~ 10 μm |
應用範圍
除應用於表面化學、無機材料、半導體、高分子聚合物、生物、藥劑、醫學領域等以微粒子為主的分析外,更適用於薄膜或平面樣品表面物質的實驗與研究。
新機能材料領域領域:
–燃料電池領域(奈米碳管、Fullerene、機能性薄膜、催化、奈米金屬)
–生物科技領域(奈米膠囊、網狀高分子聚合物、DDS、生物奈米粒子、奈米微氣泡等)
陶瓷及顏料工業領域:
–陶瓷(硅土、鋁土、氧化鈦…等)
–無機溶膠表面改質、分散、凝聚控制
–顏料(黑碳、有機顏料)分散、凝聚控制
–漿狀(Slurry)樣品
–彩色濾光片
–懸浮礦物質取樣材料吸著力研究
半導體領域:
–矽晶圓表面所附著之異物解析
–研磨劑、添加劑與晶圓表面之相互作用研究
–CMP Slurry
高分子及化學工業領域:
–塗料或黏著劑乳液、乳劑分散或凝聚狀態,醫藥、工業用乳膠表面改質
–電解質高分子機能性研究(Polystyrene sulfonate、Poly carboxylic acids…等),機能性奈米微粒
醫藥、食品工業領域:
–食品乳化劑、香料、醫療、化妝品等乳液、乳劑分散、凝聚狀態,蛋白質機能性
–微脂體、液胞分散與凝聚控制,界面活性劑(微胞)機能性
規格
粒徑 (ZS, S) | Zeta電位 (ZS, Z) | 分子量 (ZS, S) | |
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量測原理 | 動態光散射法 (光子計數法) | 動態電泳光散射法 (Laser Doppler) | 靜態光散射法 |
光學系統 | 零差法光學系統 | 外差法光學系統 | 零差法光學系統 |
光源 | 高功率半導體雷射*1 | ||
感光元件 | 高感度APD | ||
樣品容器 | 矩形容器 : 0.9 mL ~ 微量容器 : 20μl~ | 標準容器 : 0.7 mL ~ 高濃度容器 : 0.6 mL ~ 微量可拋式樣品容器 : 130μl~ | 矩形容器 : 0.9 mL ~ |
對應濃度範圍 | 0.00001 (0.1ppm) ~ 40 % (乳膠112nm:0.00001~10%、 膽汁酸:~40%) | 0.001 ~ 40% (乳膠262nm:0.001~10%、 膽汁酸:~40%) | - |
量測範圍 | 粒徑 : 0.6nm ~ 10μm | Zeta電位 : -200 ~ 200mV | 分子量 : 360 ~ 2000 x 104*2 |
溫度範圍 | 0~90℃(具備梯度功能)*3 | ||
電源規格 | 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz | ||
尺寸 | 380(W)× 600(D)× 210(H)mm,約22kg | ||
軟體 |
平均粒徑解析 (Cumulant法) |
Zeta電位解析 (Smoluchowski公式、Hückel公式) 電泳移動度解析 Zeta電位重疊 電滲流解析 (森&岡本公式) pH滴定解析 (等電點解析) 平板界達電位解析 |
分子量解析 (Debye法) |
FDA21CFR Part 11,具備標準操作流程 (SOP) 可選擇日語/英語操作界面 |
*1 本儀器在雷射相關安全標準規範(JIS C 6802)中被歸類為第一級產品
*2 視樣品有可能需要補正慣性半徑
*3 可拋式容器使用溫度為10~50℃
多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA
低價格、不妥協的高性能
非浸入、非分注,一鍵5檢體連續量測
產品特色
一台5檢體輕鬆連續量測
一鍵測定簡易功能
對應低濃度到高濃度
標準測定時間一分高速測定
非浸入式、非分注式連續量測
搭載溫度梯度(0 ~ 90℃)
量測範圍
粒徑範圍
0.6nm ~ 10um (顯示範圍 : 0.1 ~ 10^6 nm)
濃度範圍
0.00001 ~ 40% (Latex120 nm : 0.00001 ~ 10%、膽汁酸 : ~ 40%)
溫度範圍
0 ~ 90℃
規格樣式
多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA | |
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測定原理 | 動態光散射法 |
光源 | 高輸出半導體雷測 |
感光元件 | 高感度APD |
連續測定 | 5檢體 |
測定範圍 | 0.6 nm ~ 10 μm |
濃度範圍 | 0.00001 ~ 40% |
溫度範圍 | 0 ~ 90℃ *(具備梯度功能) |
ISO | 符合 ISO 22412:2017 |
尺寸 | 240 (W) × 480 (D) × 375 (H) mm |
重量 | 約 18 kg |
軟體功能 | 平均粒徑解析 (Cummulant) |
粒度分布解析 (Marquardt / NNLS / Contin / Unimodal) | |
粒度分布重疊 | |
逆相關函數 & 殘差圖表 | |
粒徑監控功能 | |
粒徑顯示範圍 (0.1 ~ 10^6 nm) | |
※使用標準玻璃容器時。若使用拋棄式容器為 0 ~ 40℃ |