QuantumDiamonds 是半導體分析領域量子感測技術的全球領導者，致力於提供先進的無損、高解析度三維失效分析解決方案。我們的系統利用鑽石中氮空位（Nitrogen-Vacancy）的獨特屬性，能夠直接可視化電活動和電流流動，其性能遠超傳統技術。

我們的技術輔助半導體製造商更快、更準確地識別、定位和理解失效機制，從而縮短故障根源分析時間，並加速良率提升。透過將前沿量子物理學與實際工程挑戰相結合，QuantumDiamonds 正在重新定義產業失效分析的方式，並為更可靠、更有效率的下一代裝置鋪平道路。

QD m.1 是一款首創的量子感測工具，可用於非破壞性三維半導體故障隔離。它透過檢測電流產生的磁場，實現對電活動的高解析度、高靈敏度成像。 QD m.1 採用專利鑽石感測器技術，能夠隔離 xy 和 z 方向上的短路與斷路故障。

特點

QDm.1 是一款故障隔離工具，可透過磁成像技術對短路故障和開路故障進行 xy 和 z 方向的定位。它可用於多種裝置的晶片和封裝級應用，包括邏輯裝置、記憶體（HBM、DRAM、NAND）以及 Si/SiC/GaN 功率電子元件，用於尋找混合鍵結介面、TSV、金屬短路、凸點頸部等處的故障。

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