Particle Metrix 成立於 2004 年，專注於奈米顆粒分析儀的開發、生產與銷售，結合奈米顆粒追蹤技術，提供專業解決方案，總部位於德國阿默湖畔因寧。
ZetaView®奈米粒子追蹤分析儀
細胞外囊泡（EV）、外泌體、病毒或病毒樣顆粒 等生物奈米粒子在生命科學和奈米醫學中越來越受到人們的關注。ZetaView 是一種應用於奈米粒子追踪分析（NTA）的儀器。，可以測量溶液中的奈米粒子運動的軌跡。這項技術利用雷射光在樣品中反射，透過高解析度的CMOS鏡頭捕捉奈米粒子的布朗運動軌跡，分析粒子的大小和顆粒濃度。儀器內建置了長通濾波片，能夠觀察標有特殊螢光抗體的奈米粒子，提供更多生物訊息或是更準確分析帶有螢光抗體的粒子占整體純度數據 。另外，雙雷射與四雷射的ZetaView可以升級螢光共定位功能 (Colocalization) 實現螢光共定位分析，用以判斷同一粒子是否成功標定上兩種螢光抗體。
特點
- 掃描式NTA - 自動偵測樣品槽內 11 個不同截面之顆粒數據
- 自動對準和自動對焦 - 軟體操作可自動進行調整及對焦，減少操作時間及降低人為調整誤差
- 快速測量 – 可於 60 秒完成粒徑與濃度數據的偵測與分析
- 快速簡單的清潔 - 內建 pump 系統，由軟體操作進行樣品槽清洗，減少樣本與樣本間偵測之時間
- 直覺的軟體 - 直覺式軟體介面設計，易於切換各種偵測模式
- 多機一體的設計 - 單一機器即可進行多種顆粒特性偵測及分析
- 螢光分析 – 點選系統即可自動切換螢光偵測模式進行螢光訊號偵測
- 無高成本耗材 - 僅需準備平頭式的針筒進行樣品注入
- 無需額外建置標準曲線–透過直接視覺化的分析，顆粒大小偵測無須以標準粒子才能進行粒子的數據分析
