Image Image 提高SiP 製造質量的最佳 3D 檢測解決方案利用2D視覺, 相位輪廓測量(Moiré),雷射掃描的複合檢查方法對高反射,半透明,低反射部件可進行正確的3D測量對超小型部件及高密度部件可進行3D檢查使用同軸照明可檢查CSP部件上的Crack缺陷