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粒徑分析的樣品前處理|雷射粒徑分析量測困難樣品完整指南

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  • 粒徑分析的樣品前處理|雷射粒徑分析量測困難樣品完整指南

2026年05月電子報

了解粒徑分析中樣品前處理的重要性,解析雷射粒徑分析面對黏附性、內聚性與磁性樣品的分散技巧,提升量測準確度與重現性。

一、為何樣品前處理決定粒徑分析與雷射繞射法的成敗?
在粒徑分析(特別是雷射繞射法)中,一個常被忽略但極為關鍵的因素,是樣品前處理。實務上,多數量測誤差並非來自儀器本身,而是源於樣品未被正確分散或處理。根據 FRITSCH 標準操作文件,粒徑測量結果的再現性,建立於樣品是否「具代表性且完全分散」。
核心必要條件

條件

說明

單顆粒分散

無團聚體(agglomerate-free)

穩定懸浮

測量期間不得凝聚或沉降

完整濕潤

無漂浮顆粒

不改變粒徑

不因分散造成破壞

 

二、困難樣品的本質:三種作用力
在實務中,最常導致粒徑偏差的樣品類型可分為三類:
1️黏附性(Adhesion):顆粒與顆粒之間的表面吸附力,顆粒表面互相黏附、形成團聚。
2️內聚性(Cohesion):顆粒內部分子吸引力(如極性作用),分子間吸引力強,顆粒難分散。
3️磁性(Magnetism):磁偶極吸引造成不可逆聚集。弱磁:顆粒因磁力吸引聚集;強磁:強烈磁偶極吸引,持續團聚。

三、不同作用力對粒徑分析的影響

類型

現象

對粒徑結果影響

在 A 22 中,這些現象會

黏附性

顆粒黏在一起

粒徑「假性變大」

•    分布曲線偏粗
•    重複測量不一致
•    細顆粒訊號消失
 

內聚性

結構穩定聚集

難以分散、分布偏寬

磁性

磁性團聚

無法完全分散、重複性差

四、樣品前處理策略:雷射繞射法中的分散工程方法

樣品類型

處理原理

常用方法

推薦試劑 / 條件

建議濃度 / 參數

實務說明

黏附性樣品

降低表面能,形成吸附層(adsorption layer)

添加界面活性劑、形成單分子吸附層(monolayer)

焦磷酸鈉(Na₄P₂O₇)、聚丙烯酸鈉

0.5–1%

本質為對顆粒進行化學潤濕與屏蔽(masking),提升分散性

內聚性樣品

破壞分子間吸引力,提升顆粒排斥力

超音波(Ultrasonication)、pH調整、分散劑添加

外部超音波槽、酸鹼調整液、離子型分散劑

超音波數分鐘以上

適用於黏土、氧化物、細粉體等易凝聚材料

磁性樣品(弱磁)

增加流體阻尼,降低顆粒移動與碰撞

使用較高黏度介質

乙二醇(ethylene glycol)、甘油/水混合液

依黏度需求調整

僅對弱磁性樣品有效

磁性樣品(強磁)

理論上降低磁性或熱退磁

高溫加熱(數百°C以上)

高溫處理設備

視材料而定

實務上困難,通常不建議進行雷射粒徑分析

五、常見問題與對策

問題

原因

解法

顆粒漂浮

未完全潤濕

加入界面活性劑

分布偏粗

團聚

增加超音波時間

測量不穩定

凝聚

調整pH

假性粗粒

氣泡

降低攪拌速率

管路污染

殘留

測後立即清洗

六、雷射繞射法中樣品前處理:分散液選擇策略
FRITSCH 濕式粒徑分析中分散液 / 測量液的選擇指南
在雷射繞射法(Laser Diffraction)或其他濕式粒徑量測中,團聚現象會直接造成粒徑偏大,是樣品前處理中最常見的誤差來源之一。此外,分散液的選擇會直接影響顆粒是否能維持原貌、充分分散並穩定循環。若介質選擇不當,容易造成團聚、沉降、溶解或假性粒徑偏差,因此建議依下列核心原則評估。

核心原則

技術說明

若選擇不當可能產生的問題

實務建議

密度匹配

分散液密度應與樣品密度接近,通常液體密度低於或接近固體密度,使顆粒在循環系統中保持良好懸浮狀態。密度差過大時,顆粒會因重力快速沉降或產生分層。

粗顆粒快速沉底、抽樣不均、重複測試差異大、粒徑分布漂移。

高密度粉體(如金屬粉、礦物粉)可考慮較高密度介質,如甘油/水混合液、乙二醇系統,以減緩沉降速度。

不溶解 / 不膨潤

分散液不可使樣品發生溶解、吸液膨脹、軟化或結構改變。量測目的應是分析原始粒子尺寸,而非被液體改變後的狀態。

粒徑變小(溶解)、粒徑變大(膨潤)、分布異常、多峰化、數據不具代表性。

水溶性粉體(如鹽類)可改用酒精類介質;高分子材料需先確認是否吸水膨潤。

可潤濕性佳分散液需能有效接觸並包覆顆粒表面,使粉體快速進入液相並形成單顆粒分散。常以接觸角高低判斷,接觸角越低代表潤濕性越佳。粉體漂浮液面、氣泡附著、團聚不散、粗粒假象、量測不穩定。疏水性樣品可加入界面活性劑(surfactant)、使用酒精預濕,或先製成漿體(paste)後再稀釋。
化學穩定性分散液不得與樣品產生酸鹼反應、氧化還原反應、水解、腐蝕或表面改質。否則量測中樣品性質會改變。顆粒破碎、表面粗化、生成新顆粒、產氣泡、數據失真。金屬粉末避免酸性介質;活性氧化物避免水解環境;特殊材料建議先做相容性測試。
低黏度且可循環液體黏度需適中,便於泵浦輸送、攪拌與循環。黏度過高雖可降低沉降,但可能造成流動不良與氣泡滯留。管路負荷增加、循環效率差、背景訊號高、清洗困難。優先使用低黏度介質;若樣品沉降過快,再適度提高黏度。
低背景訊號 / 光學穩定對雷射粒徑儀而言,液體需具良好透光性、低雜質、低氣泡干擾,避免影響散射訊號。背景值過高、遮光率異常、重複性差、訊號飄移。使用純水、去離子水、過濾溶劑;量測前先做背景校正。
安全性與設備相容性有機溶劑需考慮揮發性、可燃性及與管路、密封件材質的相容性(如 Viton、PTFE 等)。密封件膨潤、管路老化、漏液、安全風險。使用酒精、烴類溶劑前,先確認設備材質與通風條件。
易清洗與低殘留量測完成後介質應容易沖洗,不易殘留於測量槽、玻璃窗或管路中,以避免交叉污染。下次量測背景偏高、假性粗粒、交叉污染。高油性或高黏度液體使用後需立即清洗,必要時搭配清潔劑。

七、應用案例(實務導向)

樣品建議液體原因
SiO₂水穩定、不溶解
TiO₂ 疏水粉水+界面劑改善潤濕
鐵粉甘油混合液降低沉降
食鹽IPA / 酒精類避免溶解

八、結論:從「測量」轉為「樣品工程」
粒徑分析不僅是儀器操作,更是一項結合材料特性、分散行為與量測條件控制的系統工程。高可信度的分析結果,來自於下列三大要素的整合:分散工程 + 界面化學 + 流體控制。對於黏附性、內聚性與磁性樣品,若未充分理解顆粒間作用力,即可能產生團聚、沉降、漂浮或重複性不佳等問題,進而影響數據判讀。透過適當的界面活性劑、超音波能量、pH調整與介質選擇,可有效提升樣品分散穩定性與量測再現性。特別是磁性樣品,建議於分析前先評估其分散可行性與量測適用性。最終而言,樣品前處理往往是粒徑分析中最容易被低估、卻最關鍵的成功因素。

總結
在粒徑分析中,特別是雷射繞射法應用下,樣品前處理往往是影響數據準確性的關鍵因素。透過適當的分散工程、界面化學調控與介質選擇,可有效提升量測結果的再現性與可信度。對於黏附性、內聚性與磁性樣品,若未進行適當的樣品前處理,即使使用高階粒徑分析儀器,也可能無法獲得真實粒徑分布。

常見問題(FAQ)
Q1:什麼是雷射繞射法粒徑分析?
雷射繞射法是一種透過光散射角度推算粒徑分布的技術,是目前最常用的粒徑分析方法之一。
Q2:為什麼樣品前處理很重要?
若樣品未充分分散或存在團聚,會導致粒徑分析結果偏差,影響數據判讀。
Q3:所有樣品都適合雷射繞射法嗎?
並非所有樣品都適合,例如強磁性粉體或易溶解材料,需評估樣品前處理與量測方式。
 

辛耘可提供之產品介紹
 

ANALYSETTE 22 NeXT

 

 

法雷射粒徑分析儀ANALYSETTE 22 NeXT  
   FRITSCH 粒徑分析採用發明專利的反向傅立葉設計。ANALYSETTE 22 NeXT 除了可乾濕兩用外,有兩種型號,非常適合在生產和質量控制以及研發或控制製造過程中進行高效粒度分析。NeXT具決定性優勢:特別容易操作和清潔、分析時間短、可靠的重現性結果。要處理腐蝕性極強的化學分散液體,請訂購帶有擴展套件的濕式分散裝置,以實現極端的耐化學性。
 

◎只有一個光源:簡單、堅固、可靠
◎通過智能測量單元設計記錄非常寬的散射角
◎連續記錄雷射輸出
◎快速、自動的光束調整
◎操作簡單
◎測量和沖洗循環系統無死角
◎150毫升和500毫升之間的可變懸浮液體積
◎輸出功率高達50瓦的獨立超音波
◎軟體可自由編程
 

影片分享連結

FRITSCH

德國FRITSCH公司是實驗室應用儀器的專門製造商。FRITSCH提供快速工業應用於製程監控與品質保證,以及提供工業與學術研究室準確可靠的研究應用。 FRITSCH成立於1920年為獨立的家族企業公司,總部位於伊達爾-奧伯施泰因 (Idar-Oberstein) ,並於法國、俄羅斯、新加坡、中國以及美國皆設有子公司。 FRITSCH的核心競爭力為創新研發並生產優異之樣品製備儀與利用雷射粒徑分析儀原理開發的粒徑分析儀。由於業務活動範圍遍及全球,我們熟悉來自各種不同產業的問題性任務,並找出有效的解決方案。FRITSCH所研發的所有儀器集合優異的可靠性、創新的技術以及簡單的操作於一身。 堅持品質永不妥協並提供廣泛的服務。對於FRITSCH而言,良好的生產品質意味著所有儀器皆具有歐洲合格認證CE標誌,並且依照國際品質標準ISO 9001生產製造,提供新型的微米粒徑分析儀,更精準、更廣泛的量測樣品。在全世界,FRITSCH設備廣泛的運用在樣品製備與顆粒徑分析領域。

雷射粒徑分析儀 ANALYSETTE 22 NeXT

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FRITSCH 粒徑分析採用雷射粒徑分析儀原理,發明專利的反向傅立葉設計。ANALYSETTE 22 NeXT 除了可乾濕兩用外,有兩種型號,非常適合在生產和質量控制以及研發或控制製造過程中進行高效粒度分析。NeXT具決定性優勢:特別容易操作和清潔、分析時間短、可靠的重現性結果。要處理腐蝕性極強的化學分散液體,請訂購帶有擴展套件的濕式分散裝置,以實現極端的耐化學性。

特點

測量過程中的強大優勢:

  •  只有一個光源:簡單、堅固、可靠
  • 快速同步記錄所有散射數據
  • 通過最先進的 16 位轉換器技術高度精確地記錄光強度
  • 還通過智能測量單元設計記錄非常寬的散射角
  • 兩種型號具有不同的測量範圍
  • 連續記錄激光輸出
  • 快速、自動的光束調整

分散過程中的強大優勢:

  •  操作簡單
  • 緊湊的測量迴路
  • 強力泵
  • 幾乎免維護的設計
  • 監測重要的色散參數
  • 測量和沖洗循環系統無死角
  • 快速一致的清潔
  • 150 毫升和 500 毫升之間的可變懸浮液體積
  • 許多有機溶劑也可用作標準流程
  • 輸出功率高達 50 瓦的獨立超音波
  • 軟體可自由編程

只要可以均勻分散在水或溶劑中,幾乎所有領域都可以用得上:

  •  粉末冶金:燒結工藝
  • 化妝品行業:乳液、晚霜
  • 化學工業:油漆、調色劑
  • 食品工業:巧克力,咖啡,豆類
  • 醫藥行業:噴霧劑、眼藥水、錠劑
  • 半導體行業:研磨液、漿料…
  • ISO 13320

乾式分散模組

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乾式分散特別適用於不太細、自由流動的材料,這些材料會在水或其他液體中發生反應。

特點

  • 在加速氣流中快速測量粉狀樣品
  • 所有與樣品接觸的部件都可以輕鬆拆卸 - 從而保證絕對快速和輕鬆的清潔。ANALYSETTE 22 NeXT 的測量池也可以通過偏心鎖在沒有工具的情況下打開。通過易於重新插入的外部密封件,其清潔非常方便。而且測量池玻璃的更換可以隨時完全簡單地完成。
  • 在乾式測量中,樣品材料通過振動進料器通過進料漏斗輸送到乾式測量單元,在那裡它直接落入噴嘴,該噴嘴使用可調節的壓縮空氣流量運行。通過噴嘴後,團聚物被打碎,隨後直接測量雷射光束中的粒徑分佈。
     

廣泛應用,本身分散良好,且無法均勻分散在水或溶劑中的固態樣品

pH量測模組

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新的pH偵測器模組安裝在分散槽中,並連接到粒徑分析系統,可對分散液的 pH 值進行簡單、連續的監測。

特點

  • 在奈米懸浮液領域的測量中,pH 值是懸浮液穩定性的重要參數。如果它在測量過程中發生偏移,則可能會發生顆粒絮凝(凝結),這是導致測量結果無法重現的常見原因。
  • FRITSCH現在提供的pH測量,您可以在測量過程中連續測量pH 值,凝聚或聚集的檢測也變得容易。

動態影像粒徑分析儀 ANALYSETTE 28 ImageSizer

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ANALYETTE 28 ImageSizer 是一款採用雷射粒徑分析儀原理開發出的理想粒徑分析儀,適用於需要準確且可重複地測量粉末以及懸浮液的顆粒形狀和粒徑。動態圖像分析的光學過程提供寬廣測量的範圍,提供多種形狀參數和粒徑評估。測量時間取決於樣品數量,一般小於 5 分鐘,是一種非常簡單且經濟高效的篩分替代方法。

特點

  •  超寬測量範圍,可單獨調節
  • 測量時間一般低於 5 分鐘
  • 具備遠心鏡頭的高性能相機
  • 透過 SOP 實現快速、簡單的操作
  • 高性能、集成圖像的分析軟體 ISS
  • 擁有形態分析的廣泛資料庫
  • 可靠的品質監控工具
  • 可呈現個別的結果報告
  • 化肥、耐火產品、玻璃和陶瓷、碳產品、催化劑、塑料、食品、金屬和礦石、醫藥產品、炭黑和煤、鹽、沙子、磨料和水泥
  • 也適用於快速、安全和簡單的製程、研究實驗室
  • 符合 ISO 13322-2 對動態圖像分析的要求

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