Ambivalue

EyeTech™雙通道粒子特性量測系統,Ambivalue公司創新技術以雷射光 阻斷時間法計算樣品粒徑,並以2D光學影像動態形狀分析輔助,提供可靠的數據分 析。跳脫傳統雷射繞射及光散射法所需要的設定的RI值、溶劑吸光值及黏滯係數等 參數等缺陷,呈現真實的量測數據。

Eyetech雙通道粒子特性量測系統

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利用雷射光束照射粒子後偵測其遮蔽時間的原理,量測粒子邊緣形狀並準確判 別大小,此方法能不受粒子穿透度影響,也不因粒子之物理性質或光學性質影 響其量測結果。Eyetech同時同步測定粒子粒徑、光學影像動態形狀分析及計算 顆粒數的全方位機種。優異的軟體分析能力,隨時比較每個單一顆粒的粒徑、 形狀及各種數據,符合FDA 21 CFR Part 11的軟體規範,亦適用USP788微粒檢測 -光阻斷法及光學影像動態分析的具體應用。 Eyetech系統無須校正即可測量,不需做Alignment、測背景值或是光路校正,一 次按鍵立即測樣,操作方便。 多樣化的樣品槽應用,搭配10種樣品槽針對液體、乳狀、粉末、纖維、磁性粒子、 氣溶膠等量測。 應用於半導體廠,醫藥、食品、顏料、聚合物及化工產業。可精準測定奈米粒徑 及介面電位,同時符合ISO13321、ISO22412、ISO13099-2及JIS Z 8826的規範。