Eyetech雙通道粒子特性量測系統

利用雷射光束照射粒子後偵測其遮蔽時間的原理，量測粒子邊緣形狀並準確判 別大小，此方法能不受粒子穿透度影響，也不因粒子之物理性質或光學性質影 響其量測結果。Eyetech同時同步測定粒子粒徑、光學影像動態形狀分析及計算 顆粒數的全方位機種。優異的軟體分析能力，隨時比較每個單一顆粒的粒徑、 形狀及各種數據，符合FDA 21 CFR Part 11的軟體規範，亦適用USP788微粒檢測 -光阻斷法及光學影像動態分析的具體應用。 Eyetech系統無須校正即可測量，不需做Alignment、測背景值或是光路校正，一 次按鍵立即測樣，操作方便。 多樣化的樣品槽應用，搭配10種樣品槽針對液體、乳狀、粉末、纖維、磁性粒子、 氣溶膠等量測。 應用於半導體廠，醫藥、食品、顏料、聚合物及化工產業。可精準測定奈米粒徑 及介面電位，同時符合ISO13321、ISO22412、ISO13099-2及JIS Z 8826的規範。