全範圍粒子分析:微奈米粒徑最佳解析技術講座(免費)

大塚_辛耘_邑流微測_微奈米粒徑最佳解析技術講座

        新材料的開發關乎各產業的發展,從研究到量產階段都有很多重要的參數需要調控。
        『細微化』不管在哪個產業材料中都是一大挑戰。其中粒徑分佈更會直接影響到該材料特性,不理想的分散可能會影響物品的保存,或最終無法達到我們預期的物理性質。
        這次,我們邀請了有半世紀以上開發販售粒徑分析儀經驗的設備大廠大塚電子,以及有台灣工研院新創技術背景的FlowVIEW 邑流微測進行演講。會議內容將橫跨了微米與奈米尺度,為各位介紹各種樣品和範圍下,最正確的粒徑分析技術。以及最新的線上分析系統,粒子形狀分析(真圓度)等各種解決方案。

全範圍粒子分析:微奈米粒徑最佳解析技術講座
日程:2022/05/25 (三) PM14:00
14:00 開場
14:05 奈米粒徑分散性量測-研發・品管・自動化線上分析全方位解決方案
14:35 Q&A
14:45 AI動態影像粒徑分析最佳解
15:15 Q&A
15:25 活動結束
期待與各位相見

活動聯絡人:
游小姐 HP:0933091253 E-Mail:sunny.yu@scientech.com.tw
張先生 HP:0987238617 E-Mail:martin.chang@scientech.com.tw

Content changed at :2022-04-11 14:30:26