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  化學生技 - 3D X射線顯微鏡 ZEISS Xradia 800 / 810 Ultra



3D X射線顯微鏡 ZEISS Xradia 800 / 810 Ultra
擁有Xradia 810 Ultra X射線顯微鏡,您可以實現低至 50 nm 的空間分辨率,這是業界 X 射線成像系統領先的水準。由於無損 3D 成像在現今的突破性研究中有重要的作用,您將會體驗到出色的性能和靈活性。創新的 Xradia Ultra 系列具有吸收襯度和相位襯度的功能,並使用獨有的同步輻射光學元件改造而來的附件,在光子能量為 5.4KeV 時納米成像能力提高10倍。對於中低原子序數的樣品,Xradia 810 Ultra 的低能量特性能夠獲得更好的襯度和圖像質量。 Xradia 810 Ultra 在研究材料隨時間的演變(4D),可實現出色的原位和4D性能,拓展了3D X 射線成像技術在材料科學,生命科學,自然資源和各種工業應用領域的局限。
特點:
icon 蔡司是全球領在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術外,Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的先進光學器件,以提供業界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統成像工作流程中加入關鍵的無損分析步驟,從而讓這款創新儀器實現了研究領域的突破。Xradia 810 Ultra 能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難於成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。以吸收襯度和相襯技術來優化大量材料的成像,如聚合物、氧化物、複合材料、燃料電池、地質樣品及生物材料等。在先進的同步加速器實驗室內首次導入納米級 X 射線成像技術,開創性解決方案始終讓您走在科學研究的尖端。通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個量級,拓展了 XRM 在科學和工業領域中的應用。對於中心顯微實驗室而言,更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內綜合利用儀器,擴大 XRM 的用戶群。您也可以快速地重複執行內部結構的四維和原位研究,使這些技術的應用面更廣。
標準規範:
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應用:
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規格:
icon 50 nm 的空間分辨率、光子能量為 5.4KeV
 
 
 
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