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  化學生技 - 3D X射線顯微鏡 ZEISS Xradia 510 / 520 Versa



3D X射線顯微鏡 ZEISS Xradia 510 / 520 Versa
蔡司Xradia 520 Versa在您的科學探索和工業研究中展示了它多樣化的應用。該系統可使用X射線實現無損3D成像。該產品基於業界領先的高分辨率和襯度成像技術,拓展了無損成像的應用局限。創新的成像襯度和圖像採集技術讓你自由地定位並發現您前所未見的信息。
特點:
icon 使用蔡司 Xradia 520 Versa系統,即可實現對多種樣品類型和不同尺寸樣品的探索研究。協助您突破基於二維投影的micro-CT和nano-CT對您研究所帶來的局限。該系統可實現0.7µm空間分辨率和體素為70nm體素成像。通過運用先進的成像襯度能力(如專利的增強的吸收襯度技術和可調節的傳播相位襯度技術)得到挑戰性樣品的圖像。對材料的3D微觀結構進行無損表徵。可對原位實驗的微觀結構和隨時間演化(4D)的特徵進行獨特的表徵。
標準規範:
icon
應用:
icon
規格:
icon 0.7µm空間分辨率、70nm可實現體素
 
 
 
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