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  化學生技 - 3D X射線顯微鏡 ZEISS Xradia 410 Versa



3D X射線顯微鏡 ZEISS Xradia 410 Versa
Xradia 410 Versa 填補了高性能 X 射線顯微鏡和低功能計算機斷層掃描(CT)系統之間的空缺。 Xradia 410 Versa 以業界出眾的分辨率、出色襯度和優質原位性能提供無損 3D 成像,使您可以實現對各種尺寸樣品的開創性研究。低成本高性能的解決方案強化了成像流程,在不同的實驗室環境中應用自如。
特點:
icon Xradia 410 Versa X 射線顯微鏡為多種樣品和研究環境提供了經濟靈活的 3D 成像解決方案。無損X射線成像技術確保了貴重樣品的利用率。這款顯微鏡可以實現0.9 mm的真實空間分辨率和100 nm 的可實現體素。先進的吸收和相位襯度技術(可用於軟材料和低原子序數材料)提供了更多的功能克服傳統 CT 的局限性。Xradia Versa 超越了傳統 CT 系統的限制。傳統斷層掃描技術僅依賴於單級幾何放大,而Xradia 410 Versa 依靠同步輻射的光學器件,採用了蔡司獨特的兩級放大技術。 Xradia Versa系列擁有靈活的襯度、高易用性和蔡司突破性的大工作距離下的高分辨率(RaaD)特性,實現在實驗室中對各種類型和尺寸的樣品和多種應用進行前所未有的探索。多尺度範圍成像功能可以對同一樣品進行大範圍的多倍率成像,使其能表徵材料隨時間(4D)或在模擬的環境條件下(原位)的演化。另外,搜索和掃描控制系統(Scout-and-Scan)可根據不同的設置實現多種工作流程環境,使得Xradia 410 Versa方便不同經驗水平的用戶使用。
標準規範:
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應用:
icon
規格:
icon 0.9 mm真實空間分辨率、100 nm 可實現體素
 
 
 
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