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  化學生技 - Otsuka Electronics - 多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA



連結原廠
多檢體奈米粒徑量測系統
nanoSAQLA

低價格、不妥協的高性能
非浸入、非分注5檢體連續量測

產品特色

n   一台5檢體輕鬆連續量測

n   鍵測定簡易功能

n   對應低濃度到高濃度

n   標準測定時間一分高速測定

n   非浸入式、非分注式連續量測

n   搭載溫度梯度(0 ~ 90)

量測範圍

l   粒徑範圍

0.6nm ~ 10um (顯示範圍 : 0.1 ~ 10^6 nm)

l   濃度範圍

0.00001 ~ 40% (Latex120 nm : 0.00001 ~ 10%、膽汁酸 : ~ 40%)

l   溫度範圍

0 ~ 90

規格樣式

多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA

測定原理

動態光散射法

光源

高輸出半導體雷測

感光元件

高感度APD

連續測定

5檢體

測定範圍

0.6 nm ~ 10 μm

濃度範圍

0.00001 ~ 40%

溫度範圍

0 ~ 90 *(具備梯度功能)

ISO

符合 ISO 22412:2017

尺寸

240 (W) × 480 (D) × 375 (H) mm

重量

18 kg

軟體功能

平均粒徑解析 (Cummulant)

粒度分布解析 (Marquardt / NNLS / Contin / Unimodal)

粒度分布重疊

逆相關函數 & 殘差圖表

粒徑監控功能

粒徑顯示範圍 (0.1 ~ 10^6 nm)

※使用標準玻璃容器時。若使用棄式容器為 0 ~ 40

量測範例

多檢體奈米粒徑量測系統nanoSAQLA

多檢體奈米粒徑量測系統nanoSAQLA

多檢體奈米粒徑量測系統nanoSAQLA

 
 
 
 
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