辛耘企業  
  English
   
 
 
 
 
   
產品
   
化學生技
arrow2 Ambivalue
arrow2 Berghof
arrow2 Eltra
arrow2 Fritsch
arrow2 KLA-Tencor
arrow2 Knauer
arrow2 LCTech
arrow2 MDC
arrow2 Neutronix Quintel
arrow2 Otsuka
arrow2 Teledyne
Leeman Labs
arrow2 Teledyne
Tekmar
arrow2 ThermoFisher
arrow2 TMC
arrow2 ULVAC
arrow2 WGE
arrow2 Zeiss
特殊光學
半導體/III-V族
LCD/ LED/ SOLAR/ DATA STORAGE
微機電
PCB產業
封裝測試
二手機台
自有產品
3D列印
  化學生技 - Ambivalue bv



EyeTech™雙通道粒子特性量測系統,Ambivalue公司創新技術以雷射光 阻斷時間法計算樣品粒徑,並以2D光學影像動態形狀分析輔助,提供可靠的數據分 析。跳脫傳統雷射繞射及光散射法所需要的設定的RI值、溶劑吸光值及黏滯係數等 參數等缺陷,呈現真實的量測數據。
儀器詳細介紹
icon Eyetech雙通道粒子特性量測系統
產品聯絡人:嚴可揚
電話分機:+886-2-8751-2323 Ext: 1183
手  機:+886-987-238-652
郵件信箱:allen.yen@scientech.com.tw
產品聯絡人:葉建良
電話分機:+886-7-713-2000
手  機:+886-987-238-592
郵件信箱:richard.yeh@scientech.com.tw

 
 
 
Copyright © 2010 Scientech All rights reserved. Site map