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  LCD - Toho - FPD 3D METROLOGY SYSTEM(License: (ZYGO) 白光干涉儀



FPD 3D METROLOGY SYSTEM(License: (ZYGO)
白光干涉儀
FPD 3D METROLOGY SYSTEM
東朋白光干涉儀系統,提供快速,非接觸,表面特徵的高精度三維測量。東朋系統包括專有MetroPro®軟件。選擇合適的表面測量系統取決於您的應用程序的要求,包括精度,速度,自動化,配置靈活性和垂直範圍。該FPM是專門用來檢查蜂窩平板顯示器或大屏幕顯示器需要高清晰度的分析的一個系列。利用ZYGO專利的掃描白光干涉(SWLI)技術,FPM系列3D光學表面輕鬆測量各種表面,包括光滑,粗糙,扁平,傾斜,並加強表面。
特點:
標準規範:
應用:
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