Scientech Corporation  
  English
   
 

 
 
   
產品
   
化學生技
特殊光學
半導體/III-V族
LCD/ LED/ SOLAR/ DATA STORAGE
arrow2 AE
arrow2 ATEN
arrow2 Dawonsys
arrow2 FRT
arrow2 hfsemi
arrow2 Kensington
arrow2 Kingsemi
arrow2 KLA
arrow2 Micro Image
arrow2 Nanonex
arrow2 Neutronix Quintel
arrow2 OAI
arrow2 Plasma-Therm
arrow2 Rehm Thermal
arrow2 SiGlaz
arrow2 SMEE
arrow2 Tera
arrow2 TMC
arrow2 TOHO
arrow2 Verity
arrow2 VLSI
arrow2 WI-A
arrow2 YES
微機電
PCB產業
封裝測試
二手機台
自有產品>
3D列印a>
  LCD - Toho - FPD 3D METROLOGY SYSTEM(License: (ZYGO) 白光干涉儀



FPD 3D METROLOGY SYSTEM(License: (ZYGO)
白光干涉儀
FPD 3D METROLOGY SYSTEM
東朋白光干涉儀系統,提供快速,非接觸,表面特徵的高精度三維測量。東朋系統包括專有MetroPro®軟件。選擇合適的表面測量系統取決於您的應用程序的要求,包括精度,速度,自動化,配置靈活性和垂直範圍。該FPM是專門用來檢查蜂窩平板顯示器或大屏幕顯示器需要高清晰度的分析的一個系列。利用ZYGO專利的掃描白光干涉(SWLI)技術,FPM系列3D光學表面輕鬆測量各種表面,包括光滑,粗糙,扁平,傾斜,並加強表面。
特點:
標準規範:
應用:
規格:
 
 
 
 
 
Copyright © 2010 Scientech All rights reserved. Site map