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  半導體III-V 族 - KLA-Tencor


儀器詳細介紹
 
icon P16 Desktop Profiler表面輪廓,蝕刻深度,膜厚量測儀
icon ASIQ Desktop Profiler表面輪廓,蝕刻深度,膜厚量測儀
icon HRP-340/HRP240,High Resolution Profiler全自動表面輪廓 蝕刻深度 膜厚量測儀
icon  Candela: Optical Surface Defect Analyzers光學式表面缺陷(Defect) 檢測儀
icon ADE: 3D Optical Surface Profiler光學式多功能3D顯像輪廓儀

 
 
 
 
 
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