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  半導體III-V 族 - MueTec Automatic Microscopy and Methrology Ltd.



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MueTec開發精度高,光學測量和檢測解決方案,幫助客戶在半導體及微電子等行業,以提高他們的量產良率和整體製程控制。我們的技術專家團隊聽,應對和預測全球晶圓,光罩,MEMS製造商的需求,以極低的維護需求提供定制和標準的解決方案。可擴展的系統允許在一個單一的系統中的許多不同的應用,包括臨界尺度, 疊圖, 膜厚和缺陷檢查和評估。在過去的20年中,MueTec已經在全世界各地安裝300台測量和檢測系統。

儀器詳細介紹
icon IRIS2100(200mm)
icon MT3000
產品聯絡人:陸淑
電話分機:+886-3-516-5177 Ext: 8278
手  機:+886-987-238-653
郵件信箱:michelle.lu@scientech.com.tw

 
 
 
 
 
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