English
公司簡介
全球據點
聯絡我們
化學生技
特殊光學
半導體 Ⅲ-Ⅴ族
LCD/ LED/ SOLAR/ DATA STORAGE
封裝測試
二手機台
一般、石化工業用PUMP
自有產品
12吋晶圓再生及買賣
整場移機 /機台搬遷/機台翻新
電路板/ 關鍵零組件/ Robot 維修翻新
新聞快報
活動訊息
員工福利
活動花絮
加入我們
財務資訊
公司治理
股東專欄
產品介紹
化學生技
特殊光學
半導體/III-V族
ECO-SNOW
FRT
Genmark
Kensington
KLA-Tencor
MDC
Micro Image
Nanonex
Poongsan
Revera
Rave
Scientech
SiGlaz
Tanehashi
Tera
TMC
TOHO
UCP
Ushio
Verity
VLSI
Xradia
LCD/ LED/ SOLAR/ DATA STORAGE
封裝測試
二手機台
一般、石化工業用PUMP
半導體III-V 族
生態雪球清潔設備
MicroProf 200 / 300
非接觸式晶圓表面精密光學測量機台: 線寬, 間距, 溝距, 薄膜, 高度差, 粗糙度, 總體厚度差, 3D結構, 彎度, 曲度等量測
MicroProf MFE 200/300
非接觸式晶圓表面精密光學測量機台: 線寬, 間距, 溝距, 薄膜, 高度差, 粗糙度, 總體厚度差, 3D結構, 彎度, 曲度等量測
Auto 6”, 8”, 12” Wafer Sorter
自動6”, 8”, 12”晶圓分類/排序系統
Robot, Load Port, Stage, Pre-Aligner, Handler
機械手臂及載台
P16 Desktop Profiler, Surface Profile, Step Height, Etch depth, Roughness, Waviness 表面輪廓,蝕刻深度,膜厚量測儀
ASIQ Desktop Profiler , Surface Profile, Step Height, Etch depth, Roughness, Waviness表面輪廓,蝕刻深度,膜厚量測儀
HRP-340/HRP240,High Resolution Profiler , Surface Profile, Step Height, Etch depth, Roughness, Waviness全自動表面輪廓 蝕刻深度 膜厚量測儀
Candela:Optical Surface Defect Analyzers , Surface Profile, Step Height, Etch depth, Roughness, Waviness光學式表面缺陷(Defect) 檢測儀
ADE: 3D Optical Surface Profiler 光學式多功能3D顯像輪廓儀
高真空&超高真空零件
Photo Mask/ Reticle 光罩/ 倍縮式光罩
Nano Imprintor 奈米壓印機
GENI-sys: High Pressure Annealing Furnace 高壓回火爐管
Ultra-thin Film Thickness and Compositional Metrology
FP650: Repairing mask by laser technology
以雷射修補光罩
Merlin: Repairing mask and removing particle contamination by nanobit technology
以鑽石鍍膜針頭修補光罩及去除光罩上污染微粒
Rhazer: Removing haze on mask by laser technology without pellicle removal
不必移除pellicle, 直接以雷射去除光罩上的 haze
濕製程機台 Wet Bench
LED導光板模板雷射雕刻機 Laser Engraving Tool
光阻去除機台 Asher
單晶圓濕製程機台 Single Wafer Wet Process Tool
Orion Spray Technology Tool
Advance Defect Analysis and Management System
缺陷分析管理軟體
Reticle cassette/box Nikon、Canon 光罩盒
退火設備
擴散 & 低壓化學氣相沉積爐管
TMC vibration isolation system, magnetic field cancellation system, isolation table
TMC 制振系統
Flat Panel Surface Profiler 膜厚量測儀
Stress Measurement system 應力量測儀
Plasma Cleaner 表面電漿清洗機
High Pressure Mercury Lamp
EPD偵測儀器及其光學配件
VLSI standard 校正標準片
3D X-ray電腦斷層掃描儀
微米解析度X-ray電腦斷層掃描儀
奈米解析度X-ray電腦斷層掃描儀
Copyright © 2010 Scientech All rights reserved.
Site map
公司簡介
全球據點
聯絡我們
化學生技
特殊光學
半導體開Ⅲ-Ⅴ族
LCD/ LED/ SOLAR/ DATA STORAGE
封裝測試
二手機台
一般、石化工業用PUMP
12吋晶圓再生及買賣
整場移機 /機台搬遷/機台翻新
電路板/ 關鍵零組件/ Robot 維修翻新
新聞快報
活動訊息
員工福利
活動花絮
加入我們
溝通園地